Ostaa DS2172TN+ BYCHPS: llä
Osta takuun mukaan
DS2172TN+
- Osa numero:
- DS2172TN+
- Valmistaja:
- Maxim Integrated
- Kuvaus:
- IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP
- Lyijytön tila / RoHS-tila:
- Lyijytön / RoHS -yhteensopiva
- Saatavana oleva määrä:
- 15521 Pieces
- Tietolomake:
- DS2172TN+.pdf
esittely
BYCHIPS on tukkumyyjä DS2172TN+, meillä on varastot välittömään toimitukseen ja myös pitkäaikaiseen toimitukseen. Lähetä meille hankintasuunnitelma DS2172TN+ sähköpostilla, annamme sinulle parhaan hinnan suunnitelmasi mukaan.
tekniset tiedot
| Jännite - Supply: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Toimittaja Device Package: | 32-TQFP (7x7) |
| Sarja: | - |
| Virta (wattia): | - |
| Pakkaus: | Tube |
| Pakkaus / Case: | 32-TQFP |
| Käyttölämpötila: | -40°C ~ 85°C |
| Lukumäärä Circuits: | 1 |
| Asennustyyppi: | Surface Mount |
| Kosteuden herkkyys (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Valmistajan osanumero: | DS2172TN+ |
| liitäntä: | T1 |
| sisältää: | Error Counter, Pattern Generator and Detector |
| toiminto: | Bit Error Rate Tester (BERT) |
| Laajennettu kuvaus: | Telecom IC Bit Error Rate Tester (BERT) 32-TQFP (7x7) |
| Kuvaus: | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP |
| Nykyinen - Supply: | 10mA |
| Email: | [email protected] |
Aiheeseen liittyvät osat DS2172TN+
| Kuva | Osa numero | valmistajat | Kuvaus | näkymä |
|---|---|---|---|---|
 |
DS2172TN+T&R | Maxim Integrated | IC BIT ERROR RATE TESTER 32TQFP | tiedustelu |
 |
DS2176+ | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 24-DIP | tiedustelu |
 |
DS2175SN/T&R | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE MEMORY 16SOIC | tiedustelu |
|
DS2172TN | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | tiedustelu |
 |
DS2176QN | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 IND 28-PLCC | tiedustelu |
 |
DS2175 | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | tiedustelu |
|
DS2175SN+T&R | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-SOIC | tiedustelu |
|
DS2175+ | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | tiedustelu |
 |
DS2174Q+ | Maxim Integrated | IC BERT ENHANCED 44-PLCC | tiedustelu |
|
DS2172T/T&R | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | tiedustelu |
|
DS2176Q/T&R | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 28-PLCC | tiedustelu |
|
DS2172T+T&R | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | tiedustelu |
|
DS2175SN | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-SOIC | tiedustelu |
|
DS2172T+ | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | tiedustelu |
|
DS2172T | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | tiedustelu |
Latest News
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers