Ostaa SN74ABT8543DL BYCHPS: llä
Osta takuun mukaan
SN74ABT8543DL
- Osa numero:
- SN74ABT8543DL
- Valmistaja:
- Kuvaus:
- IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP
- Lyijytön tila / RoHS-tila:
- Lyijytön / RoHS -yhteensopiva
- Saatavana oleva määrä:
- 13038 Pieces
- Tietolomake:
- SN74ABT8543DL.pdf
esittely
BYCHIPS on tukkumyyjä SN74ABT8543DL, meillä on varastot välittömään toimitukseen ja myös pitkäaikaiseen toimitukseen. Lähetä meille hankintasuunnitelma SN74ABT8543DL sähköpostilla, annamme sinulle parhaan hinnan suunnitelmasi mukaan.
tekniset tiedot
| Syöttöjännite: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Toimittaja Device Package: | 28-SSOP |
| Sarja: | 74ABT |
| Pakkaus: | Tube |
| Pakkaus / Case: | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Muut nimet: | 296-4107-5 SN74ABT8543DLG4 SN74ABT8543DLG4-ND |
| Käyttölämpötila: | -40°C ~ 85°C |
| Lukumäärä Bits: | 8 |
| Asennustyyppi: | Surface Mount |
| Kosteuden herkkyys (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Valmistajan toimitusaika: | 6 Weeks |
| Valmistajan osanumero: | SN74ABT8543DL |
| Logic Type: | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| Laajennettu kuvaus: | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SSOP |
| Kuvaus: | IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP |
| Email: | [email protected] |
Aiheeseen liittyvät osat SN74ABT8543DL
| Kuva | Osa numero | valmistajat | Kuvaus | näkymä |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT8543DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | tiedustelu |
|
SN74ABT853DW | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24SOIC | tiedustelu |
|
SN74ABT853DBR | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24SSOP | tiedustelu |
|
SN74ABT853DBRE4 | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24SSOP | tiedustelu |
|
SN74ABT8543DWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | tiedustelu |
|
SN74ABT8543DW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC | tiedustelu |
|
SN74ABT8543DWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | tiedustelu |
|
SN74ABT853NSR | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24SO | tiedustelu |
|
SN74ABT8543DWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | tiedustelu |
|
SN74ABT853PWRE4 | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24TSSOP | tiedustelu |
|
SN74ABT853PWG4 | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24TSSOP | tiedustelu |
|
SN74ABT853NT | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24DIP | tiedustelu |
Latest News
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog