Ostaa SN74LVTH182502APM BYCHPS: llä
Osta takuun mukaan
SN74LVTH182502APM
- Osa numero:
- SN74LVTH182502APM
- Valmistaja:
- Kuvaus:
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
- Lyijytön tila / RoHS-tila:
- Lyijytön / RoHS -yhteensopiva
- Saatavana oleva määrä:
- 13720 Pieces
- Tietolomake:
- SN74LVTH182502APM.pdf
esittely
BYCHIPS on tukkumyyjä SN74LVTH182502APM, meillä on varastot välittömään toimitukseen ja myös pitkäaikaiseen toimitukseen. Lähetä meille hankintasuunnitelma SN74LVTH182502APM sähköpostilla, annamme sinulle parhaan hinnan suunnitelmasi mukaan.
tekniset tiedot
| Syöttöjännite: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| Toimittaja Device Package: | 64-LQFP (10x10) |
| Sarja: | 74LVTH |
| Pakkaus: | Tray |
| Pakkaus / Case: | 64-LQFP |
| Muut nimet: | 296-8696 74LVTH182502APMG4 74LVTH182502APMG4-ND |
| Käyttölämpötila: | -40°C ~ 85°C |
| Lukumäärä Bits: | 18 |
| Asennustyyppi: | Surface Mount |
| Kosteuden herkkyys (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Valmistajan toimitusaika: | 6 Weeks |
| Valmistajan osanumero: | SN74LVTH182502APM |
| Logic Type: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Laajennettu kuvaus: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10) |
| Kuvaus: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
| Email: | [email protected] |
Aiheeseen liittyvät osat SN74LVTH182502APM
| Kuva | Osa numero | valmistajat | Kuvaus | näkymä |
|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH182502APMR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18514DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH182504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH182512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP | tiedustelu |
|
SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18652APM | Texas Instruments | IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | tiedustelu |
Latest News
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers