Ostaa SN74ABT8952DWR BYCHPS: llä
Osta takuun mukaan
SN74ABT8952DWR
- Osa numero:
- SN74ABT8952DWR
- Valmistaja:
- Kuvaus:
- IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
- Lyijytön tila / RoHS-tila:
- Lyijytön / RoHS -yhteensopiva
- Saatavana oleva määrä:
- 16583 Pieces
- Tietolomake:
- SN74ABT8952DWR.pdf
esittely
BYCHIPS on tukkumyyjä SN74ABT8952DWR, meillä on varastot välittömään toimitukseen ja myös pitkäaikaiseen toimitukseen. Lähetä meille hankintasuunnitelma SN74ABT8952DWR sähköpostilla, annamme sinulle parhaan hinnan suunnitelmasi mukaan.
tekniset tiedot
| Syöttöjännite: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Toimittaja Device Package: | 28-SOIC |
| Sarja: | 74ABT |
| Pakkaus: | Tape & Reel (TR) |
| Pakkaus / Case: | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Muut nimet: | SN74ABT8952DWR-ND SN74ABT8952DWRE4 SN74ABT8952DWRE4-ND SN74ABT8952DWRG4 SN74ABT8952DWRG4-ND |
| Käyttölämpötila: | -40°C ~ 85°C |
| Lukumäärä Bits: | 8 |
| Asennustyyppi: | Surface Mount |
| Kosteuden herkkyys (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Valmistajan osanumero: | SN74ABT8952DWR |
| Logic Type: | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| Laajennettu kuvaus: | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SOIC |
| Kuvaus: | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
| Email: | [email protected] |
Aiheeseen liittyvät osat SN74ABT8952DWR
| Kuva | Osa numero | valmistajat | Kuvaus | näkymä |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT8952DW | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | tiedustelu |
|
SN74ABT8996PWR | Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP | tiedustelu |
|
SN74ABT8952DL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | tiedustelu |
|
SN74ABT8996DW | Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC | tiedustelu |
|
SN74ABT8952DLR | Texas Instruments | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | tiedustelu |
|
SN74ABT8952DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | tiedustelu |
|
SN74ABT833DW | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24SOIC | tiedustelu |
|
SN74ABT821ADW | Texas Instruments | IC D-TYPE POS TRG SNGL 24SOIC | tiedustelu |
|
SN74ABT8646DW | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | tiedustelu |
|
SN74ABT827NSRG4 | Texas Instruments | IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SO | tiedustelu |
|
SN74ABT8996DWR | Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC | tiedustelu |
|
SN74ABT8996PW | Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP | tiedustelu |
Latest News
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog