Ostaa SN74ABTH182504APM BYCHPS: llä
Osta takuun mukaan
SN74ABTH182504APM
- Osa numero:
- SN74ABTH182504APM
- Valmistaja:
- Kuvaus:
- IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
- Lyijytön tila / RoHS-tila:
- Lyijytön / RoHS -yhteensopiva
- Saatavana oleva määrä:
- 16721 Pieces
- Tietolomake:
- SN74ABTH182504APM.pdf
esittely
BYCHIPS on tukkumyyjä SN74ABTH182504APM, meillä on varastot välittömään toimitukseen ja myös pitkäaikaiseen toimitukseen. Lähetä meille hankintasuunnitelma SN74ABTH182504APM sähköpostilla, annamme sinulle parhaan hinnan suunnitelmasi mukaan.
tekniset tiedot
| Jännite - Supply: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Toimittaja Device Package: | 64-LQFP (10x10) |
| Sarja: | 74ABTH |
| Pakkaus: | Tray |
| Pakkaus / Case: | 64-LQFP |
| Muut nimet: | 296-4132 74ABTH182504APMG4 74ABTH182504APMG4-ND |
| Käyttölämpötila: | -40°C ~ 85°C |
| Lukumäärä Circuits: | 20-Bit |
| Asennustyyppi: | Surface Mount |
| Kosteuden herkkyys (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Valmistajan toimitusaika: | 14 Weeks |
| Valmistajan osanumero: | SN74ABTH182504APM |
| Logic Type: | Scan Test Universal Bus Transceiver |
| Laajennettu kuvaus: | Scan Test Universal Bus Transceiver 20-Bit 64-LQFP (10x10) |
| Kuvaus: | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP |
| Nykyinen - Output Korkea, Matala: | 32mA, 64mA |
| Email: | [email protected] |
Aiheeseen liittyvät osat SN74ABTH182504APM
| Kuva | Osa numero | valmistajat | Kuvaus | näkymä |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABTH18504APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | tiedustelu |
|
SN74ABTH16245DLG4 | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 16BIT 48SSOP | tiedustelu |
|
SN74ABTH16245DGGR | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 16BIT 48TSSOP | tiedustelu |
|
SN74ABTH162460DL | Texas Instruments | IC REGISTERED TRANSCVR 56SSOP | tiedustelu |
|
SN74ABTH18502APMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | tiedustelu |
|
SN74ABTH18652APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74ABTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74ABTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | tiedustelu |
|
SN74ABTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74ABTH18504APMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | tiedustelu |
|
SN74ABTH18502APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | tiedustelu |
|
SN74ABTH162245DLR | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 16BIT 48SSOP | tiedustelu |
|
SN74ABTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | tiedustelu |
Latest News
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog