SN74BCT8374ADWRE4
Osa numero:
SN74BCT8374ADWRE4
Valmistaja:
Kuvaus:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Lyijytön tila / RoHS-tila:
Lyijytön / RoHS -yhteensopiva
Saatavana oleva määrä:
18579 Pieces
Tietolomake:
SN74BCT8374ADWRE4.pdf

esittely

BYCHIPS on tukkumyyjä SN74BCT8374ADWRE4, meillä on varastot välittömään toimitukseen ja myös pitkäaikaiseen toimitukseen. Lähetä meille hankintasuunnitelma SN74BCT8374ADWRE4 sähköpostilla, annamme sinulle parhaan hinnan suunnitelmasi mukaan.
Ostaa SN74BCT8374ADWRE4 BYCHPS: llä
Osta takuun mukaan

tekniset tiedot

Syöttöjännite:4.5 V ~ 5.5 V
Toimittaja Device Package:24-SOIC
Sarja:74BCT
Pakkaus:Tape & Reel (TR)
Pakkaus / Case:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Käyttölämpötila:0°C ~ 70°C
Lukumäärä Bits:8
Asennustyyppi:Surface Mount
Kosteuden herkkyys (MSL):1 (Unlimited)
Valmistajan osanumero:SN74BCT8374ADWRE4
Logic Type:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Laajennettu kuvaus:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
Kuvaus:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Email:[email protected]

Nopea Request Quote

Osa numero
Määrä
Yhtiö
Sähköposti
Puhelin
Kommentit