Ostaa SN74BCT8374ANTG4 BYCHPS: llä
Osta takuun mukaan
SN74BCT8374ANTG4
- Osa numero:
- SN74BCT8374ANTG4
- Valmistaja:
- Kuvaus:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
- Lyijytön tila / RoHS-tila:
- Lyijytön / RoHS -yhteensopiva
- Saatavana oleva määrä:
- 18871 Pieces
- Tietolomake:
- SN74BCT8374ANTG4.pdf
esittely
BYCHIPS on tukkumyyjä SN74BCT8374ANTG4, meillä on varastot välittömään toimitukseen ja myös pitkäaikaiseen toimitukseen. Lähetä meille hankintasuunnitelma SN74BCT8374ANTG4 sähköpostilla, annamme sinulle parhaan hinnan suunnitelmasi mukaan.
tekniset tiedot
| Syöttöjännite: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Toimittaja Device Package: | 24-PDIP |
| Sarja: | 74BCT |
| Pakkaus: | Tube |
| Pakkaus / Case: | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Muut nimet: | SN74BCT8374ANTE4 SN74BCT8374ANTE4-ND |
| Käyttölämpötila: | 0°C ~ 70°C |
| Lukumäärä Bits: | 8 |
| Asennustyyppi: | Through Hole |
| Kosteuden herkkyys (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Valmistajan osanumero: | SN74BCT8374ANTG4 |
| Logic Type: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Laajennettu kuvaus: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP |
| Kuvaus: | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP |
| Email: | [email protected] |
Aiheeseen liittyvät osat SN74BCT8374ANTG4
| Kuva | Osa numero | valmistajat | Kuvaus | näkymä |
|---|---|---|---|---|
|
SN74BCT8374ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | tiedustelu |
|
SN74BCT8373ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | tiedustelu |
|
SN74BCT8374ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | tiedustelu |
|
SN74BCT8374ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | tiedustelu |
|
SN74BCT8373ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | tiedustelu |
|
SN74BCT8374ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | tiedustelu |
|
SN74BCT8373ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | tiedustelu |
|
SN74BCT8374ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | tiedustelu |
|
SN74BCT8373ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | tiedustelu |
|
SN74BCT8373ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | tiedustelu |
Latest News
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog