Ostaa SN74LVTH18511DGGR BYCHPS: llä
Osta takuun mukaan
SN74LVTH18511DGGR
- Osa numero:
- SN74LVTH18511DGGR
- Valmistaja:
- Kuvaus:
- IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP
- Lyijytön tila / RoHS-tila:
- Lyijytön / RoHS -yhteensopiva
- Saatavana oleva määrä:
- 12209 Pieces
- Tietolomake:
- SN74LVTH18511DGGR.pdf
esittely
BYCHIPS on tukkumyyjä SN74LVTH18511DGGR, meillä on varastot välittömään toimitukseen ja myös pitkäaikaiseen toimitukseen. Lähetä meille hankintasuunnitelma SN74LVTH18511DGGR sähköpostilla, annamme sinulle parhaan hinnan suunnitelmasi mukaan.
tekniset tiedot
| Jännite - Supply: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| Toimittaja Device Package: | 48-TSSOP |
| Sarja: | 74LVTH |
| Pakkaus: | Tape & Reel (TR) |
| Pakkaus / Case: | 48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| Muut nimet: | 296-17079-2 |
| Käyttölämpötila: | -40°C ~ 85°C |
| Lukumäärä Circuits: | 18-Bit |
| Asennustyyppi: | Surface Mount |
| Kosteuden herkkyys (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Valmistajan osanumero: | SN74LVTH18511DGGR |
| Logic Type: | Universal Bus Transceiver |
| Laajennettu kuvaus: | Universal Bus Transceiver 18-Bit 48-TSSOP |
| Kuvaus: | IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP |
| Nykyinen - Output Korkea, Matala: | 32mA, 64mA |
| Email: | [email protected] |
Aiheeseen liittyvät osat SN74LVTH18511DGGR
| Kuva | Osa numero | valmistajat | Kuvaus | näkymä |
|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18502APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18514DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | tiedustelu |
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18652APM | Texas Instruments | IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | tiedustelu |
|
SN74LVTH182504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | tiedustelu |
Latest News
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers